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  2. Deconvolution SIMS depth profiles: toward the limits of the resolution by self-deconvolution test
TitreDeconvolution SIMS depth profiles: toward the limits of the resolution by self-deconvolution test
Publication TypeInvited Conference
AuthorsMancina, G, Prost, R, Prudon, G, Gautier, B, Dupuy, JC
Secondary AuthorsBenninghoven, A, Bertrand, P, Migeon, HN, Werner, HW
Full Text
Deconvolution SIMS depth profiles: toward the limits of the resolution by self-deconvolution test
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